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Kataloginformation
Feldname
Details
Dewey Class
621.3 (DDC 22)
Titel
Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices (EB) / edited by Josef Sikula, Michael Levinshtein.
Added Personal Name
Levinshtein, Michael
Sikula, Josef
Other name(s)
SpringerLink (Online service)
Veröffentl
Dordrecht : Springer , 2005.
Physical Details
: v.: digital
Reihe
NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, II. Mathematics, Physics and Chemistry
1568-2609 ; 151
ISBN
9781402021701
System details note
Online access to this digital book is restricted to subscription institutions through IP address (only for SISSA internal users)
Internet Site
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-2170-4
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Schlagwörter:
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Computer engineering
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Electronic and Computer Engineering
.
Measurement Science, Instrumentation
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Optical and Electronic Materials
.
Optical materials
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Physics
.
Weights and measures
.
Authors:
Levinshtein, Michael
.
Sikula, Josef
.
Corporate Authors:
SpringerLink (Online service)
.
Series:
NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, II. Mathematics, Physics and Chemistry
.
Classification:
621.3 (DDC 22)
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